แนวโน้มในการผลิตวงจรรวม failure analysis มุ่งไปที่ส่วนประกอบที่มีขนาดเล็กลงและมีขนาดเล็กลง ซึ่งมักส่งผลให้มีความหนาแน่นและความซับซ้อนสูงขึ้นมาก การแปรผันเล็กน้อยในตัวแปรที่สำคัญอาจทำให้ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ทำงานผิดปกติในลักษณะที่แปลก ดังที่ผู้ผลิตอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ทุกคนทราบดี ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ที่ซับซ้อนในปัจจุบันพลาดการยิงบ่อยครั้ง และการค้นหาสิ่งที่ผิดพลาดไม่ใช่เรื่องง่าย failure analysis โดยใช้เทคนิคเอ็กซ์เรย์ความละเอียดสูงสามารถช่วยให้วิศวกรไฟฟ้าค้นพบและเข้าใจว่าความล้มเหลวทางอิเล็กทรอนิกส์อยู่ที่ใด
failure analysis ในบทความนี้เราจะเข้าใจว่าทำไมการเอ็กซเรย์
จึงมีประโยชน์สำหรับงานวิเคราะห์ความล้มเหลวทางอิเล็กทรอนิกส์ การสร้างภาพที่เหมาะสมเป็นองค์ประกอบที่สำคัญของกระบวนการวิเคราะห์ความล้มเหลว เนื่องจากเป็นการสนับสนุนทุกๆ ขั้นตอน ที่จริงแล้ว หากคุณส่งตัวอย่างเพื่อการวิเคราะห์ จะช่วยได้มากหากคุณให้ข้อมูลโดยละเอียดเกี่ยวกับความถี่ของความล้มเหลว และภายใต้ภาระงาน ข้อมูลเพิ่มเติม การวิเคราะห์ที่ดีขึ้น ถ้าเป็นไปได้ เทคนิคการวิเคราะห์ต้องไม่ทำลายชิ้นงานที่มีข้อบกพร่อง นี่เป็นสิ่งสำคัญสำหรับวัตถุประสงค์ในการสุ่มตัวอย่างและการวิเคราะห์ส่วนประกอบราคาแพงบางอย่าง
เทคนิคต่างๆ เช่น การใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน failure analysis จำเป็นต้องมีการเตรียมการอย่างระมัดระวัง เช่น การปรับพื้นผิวให้เรียบซึ่งจะทำให้เกิดความเสียหาย การวิเคราะห์ตัวอย่างโดยไม่สร้างความเสียหาย เรียกว่าการทดสอบแบบไม่ทำลาย การถ่ายภาพเอ็กซ์เรย์เหมาะอย่างยิ่งสำหรับเทคนิค NDT ด้วยเหตุผลหลายประการ failure analysis มีความยาวคลื่นเล็ก ๆ ซึ่งเล็กกว่าแสงที่มองเห็นได้มาก วิธีนี้ช่วยให้สามารถถ่ายภาพเอ็กซ์เรย์ที่มีความละเอียดสูงได้
เมื่อขนาดของส่วนประกอบลดลง
ปริมาณพลังงานที่ส่งผ่านรังสีเอกซ์ซึ่งแปลเป็นความยาวคลื่นที่มากหรือน้อยตามที่กำหนดโดยสมมติฐานของพลังค์สามารถเปลี่ยนแปลงได้ขึ้นอยู่กับข้อกำหนด ประการที่สอง พลังการทะลุทะลวงของรังสีเอกซ์ช่วยให้วิศวกรสามารถมองเห็นโครงสร้างภายในของส่วนประกอบในเชิงลึกได้ failure analysis เพื่อตรวจสอบภายในร่างกายมนุษย์ ไมโครกราฟ 2 มิตินำเสนอภาพในสองมิติโดยมีองค์ประกอบซ้อนทับกัน แม้ว่าสิ่งนี้จะมีประโยชน์ในหลาย ๆ สถานการณ์ แต่เรากำลังเปลี่ยนไปใช้ภาพเอ็กซ์เรย์ 3 มิติมากขึ้นเรื่อยๆ เพื่อให้ได้ภาพด้านในที่ชัดเจนยิ่งขึ้น
ในความเป็นจริง การสร้างภาพ 3 มิติจะกลายเป็นเทคนิคที่สำคัญที่สุดในไม่ช้า เนื่องจากไอซีสมัยใหม่มีความซับซ้อนมากขึ้น failure analysis ที่ซับซ้อนยังอาศัยเครื่องมือที่ช่วยให้ผู้เชี่ยวชาญด้านการวิเคราะห์สามารถติดตั้งตัวอย่างและใช้จอยสติ๊กเหมือนตัวควบคุมในการหมุน ซึ่งช่วยให้พวกเขาเข้าใจโครงสร้างของมันได้ดียิ่งขึ้น การวิเคราะห์ความล้มเหลวโดยใช้ระบบเอ็กซเรย์ความละเอียดสูงจึงเป็นองค์ประกอบที่ขาดไม่ได้
